X荧光元素分析仪 型号:GG314-JXA-3202 |
货号: |
技术参数
1.检测元素范围 Na--U。
2.X射线发生装置5-50kV,10mA,50W,靶Rh。
3.分辨率149ev。
4.试样舱300mm直径X150mm高。
5.电脑操作Windows2000,标配软件。
(有液氮制冷和电制冷两种)
主要特点
1.一次性分析微量的Cd,Hg,Cr
2.分析速度快Cd40ppm 10sec.10ppm,2min.
3.单键完成操作。
4.配备环境分析软件
5.灵敏度高,能做100kcps测定
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